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摘要:

本设备是为航天航空电子设备和地面测控系统工程研制配套的专用测试设备,用于研制过程中的印制线路板、电路单元、分机及小型整机在高温、低温、高低温交变环境条件下电气性能的测试;也可用于电子元器件高低温参数的试验;同样也可供电工、电子小型产品进行例行试验和可靠性试验。

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