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  • 孔敏,鞠建波.VXI总线测试系统的优化方案[J].电讯技术,2002,42(5):51 - 54.    [点击复制]
  • .Optimization Scheme of VXIbus Test System[J].,2002,42(5):51 - 54.   [点击复制]
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VXI总线测试系统的优化方案
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摘要:
概述了VXI总线器件的分类,讨论了VXI总线消息基器件和寄存器基器件的特点,以及在测试系统中2种器件对测试吞吐量和程序设计的影响,并提出了优化测试系统的方案。
关键词:  VXI总线 测试系统 优化方案 消息基器件 寄存器基器件 测试吞吐量
DOI:10.3969/j.issn.1001-893X.
修订日期:2002-02-28
基金项目:
Optimization Scheme of VXIbus Test System
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Abstract:
This paper summarizes the classification of VXIbus devices, then discusses the characteristics of VXIbus message-based and register-based devices, as well as the influence of these devices on system throughput and programming. Solutions to optimize the test system are presented.
Key words:  Test system,VXIbus,Message-based device,Register-based device,Test throughput,Optimization
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