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冯清澄.用于微波测量的双相位调制技术[J].电讯技术，1985，（5）： - .
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.[J].，1985，（5）： - .
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用于微波测量的双相位调制技术
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摘要
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目前在精密微波衰减测量中,出现了一种双相位调制新技术。它使以前的调制副载波方法得到新的突破,从而导致一种自动精密衰减测量系统。本文分析双相位调制技术的基本原理,介绍一个按这种技术设计的自动精密衰减测量系统。
关键词
:
微波衰减,调制副载波方法,双相位调制技术
DOI：
基金项目
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Abstract
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Key words
:
《电讯技术》编辑部 