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  • 刘宗科,候国栋.厚膜导带材料微波性能的研究[J].电讯技术,1989,(3):1 - 7.    [点击复制]
  • .Microwave behavior of thick film conductor materials[J].,1989,(3):1 - 7.   [点击复制]
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厚膜导带材料微波性能的研究
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摘要:
本文讨论了国产厚膜导体材料的微波性能。用国产Au浆料和Pd—Ag浆料,通过传统的厚膜工艺,在99%Al_2O_3陶瓷基片上制作了一组特性阻抗为50欧姆的微带线。用薄膜技术制作了几条和厚膜微带线一样的薄膜微带线。使用HP8410S网络分析仪测出了频率在2~12GHz范围内各条微带线的散射参数的幅度和相位。对微带线的损耗测量值和理论值进行了比较。用台阶测试仪测绘出了微带线中心导体的截面膜厚分布图。实验结果表明:在频率8GHz下,国产Au厚膜微带线的损耗和薄膜微带线的损耗几乎相等。另外,用国产Au浆料制作了一个3dB分支线定向耦合器,器件的性能良好。
关键词:  集成电路 微波 厚膜工艺 微带线
DOI:
基金项目:
Microwave behavior of thick film conductor materials
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Abstract:
Key words:  
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