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  • 廖光新.高频插头座的失效分析[J].电讯技术,1981,(1): - .    [点击复制]
  • .[J].,1981,(1): - .   [点击复制]
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高频插头座的失效分析
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摘要:
一、高频插头座的失效模及其失效机理国内使用的高频插头座主要有L型、Q型和C型三类。从可靠性角度出发,多倾向于螺纹连接的L型,故以此作为代表结构进行讨论,不言而喻,这对Q型和C型也能说明十之八九。提到接插件可靠性,人们首先想到的是它的接触因素和环境影响。当然,高频插头座也不例外,除了这些,大家还更关心它的电反射影响。这些从可靠性讲就是失效,它包含各种类型的缺陷和故障,既有内在因素也有外界干扰,而且还渗杂一些偶发随机
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