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孙国忠.测定无反射室反射特性的一种方法[J].电讯技术，1977，（4）： - .
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.[J].，1977，（4）： - .
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测定无反射室反射特性的一种方法
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摘要
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在天线和其它许多测量中都广泛地使用无反射室。由于在无反射室中的反射和绕射极其复杂,计标无反射室的性能是非常困难的。因此,大多用测量的方法鉴定其技术指标。使用的方法主要有两种:天线方向图比较法(APC 法)和自由空间电压驻波比
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《电讯技术》编辑部 