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马维松.晶体控制的X波段频率源的短期频率稳定度的测量[J].电讯技术，1976，（3）： - .
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.[J].，1976，（3）： - .
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晶体控制的X波段频率源的短期频率稳定度的测量
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摘要
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西屋电气公司设计和鉴定了一种晶体控制的 x 波段频率源,它具有极高的频谱纯度,输出功率为750毫瓦。鉴定的结果表明,当制做一个高频谱纯度的振荡器时,谐波产生器和晶体管放大器可能限制着 x 波段上所能达到的频谱纯度。文中给出了振动环境下振荡器和谐波产生器频谱纯度的测量结果。
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《电讯技术》编辑部 