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| 本文介绍的测量装置,能测量离1到500兆赫载频20赫到50千赫频率内的相位噪声的谱密度。本文只讲述到50兆赫的测量情况。测量装置的剩余单边带相位噪声功率与信号功率之比,在离载波20赫时为-142分贝/赫,离载频大于5千赫时减小到背景噪声-172分贝/赫。除去观测时相位起伏高斯分布引起的随机读数误差。可达到的计标校准精度为±0.8分贝。计标的16测量重复性为0.7分贝(测试中百分之七十的观测,都在平均值±0.7分贝以内)。这种测试装置能够表征现有原子频率标准、晶体振荡器、频率合成器及比以前更精密的高质量源的相位噪声特性。能把读数起伏减到最小的系统设计,可进一步提高精度,从而可以把减小系统误差所用的校准系数测得更准,将操作错误和偏差的可能性减到最小。 |
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《电讯技术》编辑部 